確定所施加磁場強（qiáng）度的（de）方法
a.由周向（xiàng）磁化規範、縱向磁化規範給出的公式計算所需施加（jiā）的磁化電流值及安匝數。
b.用標準試片估計法估計所施（shī）加的磁場強度的大小。
c.由毫特斯拉計測定所施加的磁場強度的大小（xiǎo）。
2.周向（xiàng）磁化（huà）規範 
a.直（zhí）接通電（diàn）法、正（zhèng）中心導體法、偏置中（zhōng）心（xīn）導（dǎo）體（tǐ）法周向磁化規範推薦如（rú）下: ⅰ連（lián）續法  I=12-20D(檢驗高磁導（dǎo）率製件的開口性缺陷)  I=20-32D(檢驗高磁導率製件的夾雜物等非開口性（xìng）缺陷及低磁導率製件的開口 性缺陷)  I=30-40D(檢驗較低磁導率製（zhì）件的夾雜物等非開口（kǒu）性缺陷)  ⅱ剩磁法:  I=30-45D(檢（jiǎn）驗矯頑力（lì）HC≥1kA/m,剩磁Br≥0.8T材料的開口性缺陷) 式中:Ｉ——磁化（huà）電流,Ｄ——製件直徑,mm;對非圓柱形製件D=周長（zhǎng）/π;偏置中心導體法製件直徑應為中心導 體的直徑加兩倍製件壁厚 
b.觸頭法周向磁化:  連續法:I=3.5-4.5L(板（bǎn）厚δ＜19mm)      I=4.0-5.0L(板厚δ≥19mm) 式中（zhōng）I——磁化電流,ＡＬ——兩觸（chù）頭間距,mm(推薦觸頭間距為150-200mm) c.環形件電纜法磁化規範  按2.4.2a計算,但要求用安匝數IN代替I(N為穿過製件空腔的軟電纜（lǎn）匝數